Titre: Les tests de cartes électroniques
Auteurs: G. Perrot
Ecole: LAPP ANNECY
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Extrait du sommaire:
• Les tests, à quoi servent-ils?
• Types de tests:
-Fonctionnels
-Structurels
• A pointes
• A sondes mobiles
• Le Boundary scan
• Le Boundary Scan au LAPP
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